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功率半导体器件的动、静态参数检测服务
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  • 发布时间:2020-12-30 14:16

产地:陕西省 西安市 雁塔区 | 归属行业:参数测试仪器

品牌:长禾实验室

有效期至:长期有效

联系人: 蒲辰

联系地址:西安市高新区锦业路69号创新商务公寓1号楼10310室

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西安长禾半导体技术有限公司

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  • 品牌:长禾实验室
  • 产地:陕西西安
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  • 所在地:陕西省 西安市 雁塔区

西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区,是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业,是国家CNAS 认可实验室,属于国家大功率器件测试服务中心。

长禾实验室拥有尖端的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套,专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准,以客户需求为导向,不断创新服务项目和检测技术,借助便利的服务网络,为合作伙伴提供优质高效的技术服务。

长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、军工院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。

长禾实验室秉承创新务实的经营理念,为客户提供优质的服务、完善的解决方案及全方位的技术支持;同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流,测试技术与服务水平不断提升。

诚信立世,感恩回馈,欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴,共谋发展大计!

长禾相关检测标准

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    GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求

    GJB 360A 电子及电气元件试验方法

    GJB 1420A 半导体集成电路外壳总规范

    GJB 128A 半导体分立器件试验方法

    GJB 3157 半导体分立器件失效分析方法和程序

    GJB 3233 半导体集成电路失效分析程序和方法

    GJB 548A 微电子器件试验方法和程序

    GJB 548B 微电子器件试验方法和程序

    GJB 5914 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法

    GJB128A 半导体分立器件试验方发方法1071密封

    GB/T17574半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路

    GJB597A 半导体集成电路总规范

    GB/T6798半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

    GB/T4587半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

    GB/T4586半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

    GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

    GB/T2693 电子设备用固定电容器 第一部分:总规范

    GB/T5729 电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范

    GJB1217A 电连接器试验方法等。



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