四象限直流电源IV曲线源表

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普赛斯四象限直流电源IV曲线源表更大直流,更高精度,科研实验必备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富；详询一八一四零六六三四七六

优势
◾  性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖±100pA～±3A的电流范围±300mV～±300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。

◾  灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

◾  易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。

提供的应用程序

- 序列扫描

- 自定义序列

- 数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式

- APD管

- 晶体管：MOSFET管测试；三极管测试

- LIV：PIN管扫描测试

- Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描

应用

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；

武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多四象限直流电源IV曲线源表产品信息，欢迎随时来电咨询！

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